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光干涉薄膜测厚仪——德国Mikropack / NanoCalc-2000-VIS/NIR

来源:葡京直营集团     发布时间:2016-09-03    点击数:

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型号:NanoCalc-2000-VIS/NIR

国别:德国

  生产厂家:Mikropack企业

概况: 德国Mikropack企业的NanoCalc-2000-VIS/NIR型光干涉薄膜测厚仪根据光干涉原理测量薄膜厚度。最高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度(其中一层为基地材料)。该仪器自带有构建材料结构的拓展功能,可对单/多层薄膜数据进行拟合分析,可对薄膜材料进行预选模拟设计,结果可以2D3D的形式显示。仪器操作简单、测速快:100ms-1s,在厂家和工地已得到广泛应用,适用于建材、军工等各个领域。

  仪器的性能指标:

  波长范围:400 -1100 nm

    膜厚测试范围:50 nm-100μm

    重现性:0.3nm

    精度:优于1%

    测量时间:100ms-1s

  测量层数:单层拟合(多层薄膜)

    入射角:90

斑点大小:400微米

主机尺寸:180mm x 152 mm x 263mm

电源:240V/50Hz

通讯: USB 1.1

主要用途:

      可应用于在膜厚测量、半导体膜、测量微纳米软物质、测定薄膜、薄片等材料厚度、线膜厚测量、测量镀在钢、铝、铜等金属物质以及陶瓷、塑料凳非金属上的粗糙膜层。

 仪器主管教师:

  张高文,男,副教授,从事功能高分子材料合成及乳液聚合方面研究

 

联系电话:027-59750456

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